在烘焙食品的制造过程中遇到了许多挑战，因为有大量的输入变量往往会影响产品的质量。
在 Sightline 的帮助下不断跟踪主要产品属性的能力 测量® 实时检测软件 （例如，峰高、斜率、烘烤颜色、起泡面积等）以可测量的方式，基于用户指定的规格限制，使用户有机会以更快速和有效的方式对变化做出反应。
图片来源：KPM 分析
表格1。 高度 3D 分析。资料来源：KPM 分析
| 高度 3D 分析 |
| 峰高 |
物体搁在平面上时的最高点；通过取顶部表面上测量的“N”个最高高度点的平均值来计算（N 是用户可配置的）。 |
| 坡 |
产品上表面的曲率；通过计算中心和靠近产品边缘的用户定义环之间的垂直变化来测量。 |
| 体积 |
基于高度和面积数据的物体体积；可以与密度一起使用来计算“预测重量”。 |
侧视图分析
可以配置 视线在线系统 配备侧视摄像头，实现真正的 100% 检测。如有必要，可以评估和拒绝烧伤痕迹等缺陷。
烧伤痕迹的面积、长度、宽度、颜色。图片来源：KPM 分析
在 Sightline 的帮助下 成像技术，可以直接在生产过程中（在线/在线）或使用台式检测系统（离线）对任何食品进行量化。
下面给出了一些可用的测量值，特别是与英式松饼有关。
表 2。 架空二维分析。资料来源：KPM 分析
| 开销 2D 分析 |
| 表面积 |
对象的总面积。用于查找双打和小产品。 |
| 起泡区 |
顶部表面上任何黑点（即水泡）的区域。 |
| 斑点区域 |
顶部表面上任何白色/斑点区域（即斑点）的面积。 |
| 产品颜色 |
计算时忽略所有顶部（如果适用）的产品的平均颜色。 |
| 最小/最大直径 |
通过物体中心测量的物体的最小和最大直径。 |
| 最高覆盖率 |
对于顶部产品，顶部表面覆盖的百分比（浅色、深色或两者）。 |
| 平均直径 |
通过物体中心每 1 度测量的物体 180 个直径的平均值。 |
| 中心长度 |
沿长轴中心测量的物体长度。 |
| 中心宽度 |
沿短轴中心测量的物体的宽度，垂直于长度测量值。 |
| 尾巴 |
烘烤后附着在物体边缘的多余面团（尾部）的识别和测量。 |
表3。 底面分析。资料来源：KPM 分析
| 底面分析 |
| 底部颜色 |
计算时忽略所有气穴的产品底部的平均颜色。 |
| 黑点 |
产品底部深色/黑色区域的表面积。 |
| 过量的玉米面 |
产品上玉米面区域的表面积。 |
| 白边 |
产品底部外圈未烘烤边缘的表面积。 |
测量 收集的 2D 数据样本® Inspection System. 图片来源：KPM 分析
测量® 可定制的“监控”页面显示摘要数据. 图片来源：KPM 分析
被识别为不合规格产品的暗区将被拒绝。 图片来源：KPM 分析
此信息已从 KPM Analytics 提供的材料中获取、审查和改编。
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