Radiant提出了一种提高像素级测量精度的方法

领先的光学和显示测量用光度学成像解决方案提供商辐射视觉系统宣布,它将在8月3日至7日在线召开的2020年显示周研讨会上发表技术论文。

该研讨会是2020年展示周计划的几项活动之一,其中包括虚拟技术程序和由信息显示学会(SID)组织的展览。 辐射视觉系统首席执行官Doug Kreysar将向公司介绍’s paper titled “分数像素方法可改善高分辨率显示器的像素级测量和校正(Demura)”由Radiant的Kreysar,Gary R. Pedeville(高级首席工程师)和Joshua H.Rouse(高级光学软件工程师III)撰写。从8月6日(星期四)开始,注册参与者可以在演示文稿中在线观看此演示文稿,该会议在第71届会议:空间统一性中进行。

“显示分辨率和像素密度继续急剧增加,因此从像素水平衡量显示的重要性也越来越高,” 克雷萨尔说。 “诸如OLED,mini-和microLED之类的技术由其发射像素和子像素照亮,它们的输出可能会变化。这种变化会导致整个显示器的亮度和颜色不均匀,从而使测量和校正过程成为质量控制的关键部分。然而,对于基于图像的测量技术而言,测量单个显示像素的特性已变得更具挑战性,该技术必须为每个显示像素应用多个传感器像素才能进行精确测量。 Radiant开发了一种新的分数传感器像素测量方法,以提高基于图像的测量的准确性,专门用于‘demura’或像素均匀度校正应用程序。此方法可实现高度灵活的显示像素配准,以确保准确计算显示像素校正因子,从而提高显示均匀性。”

在线展示Radiant’虚拟展示周研讨会上的技术论文将介绍该公司’s分数像素方法,并提供证明该方法的数据'相对于传统像素级亮度测量的精度“whole pixel”方法。结果将表明,使用具有有限传感器分辨率的成像系统获得的亮度数据(每个显示像素只有3 x 3个图像传感器像素)—当应用分数像素方法时—提供与使用超高分辨率成像系统获得的亮度数据非常接近的匹配(每个显示像素可实现多达30 x 30图像传感器像素)。如果没有分数像素方法,使用可用的成像系统获得的像素级亮度测量结果可能会存在很大的误差。这些错误可能会影响校正过程,导致“corrected” displays.

首席执行官Doug Kreysar代表辐射视觉系统提交论文,他拥有工程,物理和管理方面的背景,自2000年加入Radiant以来一直领导Radiant的多个部门。’的首席解决方案官Kreysar负责Radiant的开发’用于全球生产应用中的光和色测量的光学技术。 Kreysar获得了文学学士学位。范德比尔特大学物理学硕士和硕士拥有密歇根大学安阿伯分校的应用物理学博士学位。他是多篇技术论文的作者,也是包括信息显示学会(SID)在内的组织的定期发言人。他获得了美国汽车工程师协会(SAE)的口头演讲卓越奖,并拥有八项美国专利。

资源: www.RadiantVisionSystems.com

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    辐射视觉系统。(2020, July 17). Radiant提出了一种提高像素级测量精度的方法. AZoOptics. Retrieved on January 01, 2021 from //www.selec-iat.com/News.aspx?newsID=25154.

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