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对于薄膜厚度和折射率的常规测量， alpha-SE®是一个很好的解决方案。专为易于使用而设计：只需安装一个 样本，选择与您的电影相匹配的模型，然后按一下测量。你有 结果在几秒钟内。
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易于使用 使用先进的软件进行按钮操作，可完成工作 您。
强大 成熟的光谱椭偏仪技术可为您提供厚度和折射率 比其他技术具有更高的确定性。
灵活 处理您的材料-电介质，半导体，有机物等。
负担得起的 椭圆偏振光谱仪的价格合理。
快速 数以百计的波长可以同时收集-立即获得结果。
J.A. Woollam IR-VASE光谱椭圆仪
J.A. Woollam M-2000系列光谱椭圆仪
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