发表于 | 光谱椭偏仪

J.A. Woollamα-SE光谱椭圆仪

对于薄膜厚度和折射率的常规测量, alpha-SE®是一个很好的解决方案。专为易于使用而设计:只需安装一个 样本,选择与您的电影相匹配的模型,然后按一下测量。你有 结果在几秒钟内。

为什么选择alpha-SE?

易于使用
使用先进的软件进行按钮操作,可完成工作 您。

强大
成熟的光谱椭偏仪技术可为您提供厚度和折射率 比其他技术具有更高的确定性。

灵活
处理您的材料-电介质,半导体,有机物等。

负担得起的
椭圆偏振光谱仪的价格合理。

快速
数以百计的波长可以同时收集-立即获得结果。

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