发表于 | 发光二极管

Nanometrics的Imperia光致发光成像系统可检测出杀死产量的缺陷

该视频显示了Nanometrics的功能’Imperia光致发光(PL)成像系统。 PL成像系统使用独特的光学设计技术,可以检测和分类有害滋生缺陷导致的可杀死产量的缺陷,并提供了同时监视PL生产的附加好处。它结合了MOCVD反应器的产量和PM计划,以最大限度地减少盒处理时间和工厂空间使用。与剥离贴图相比,Imperia可通过提供1,000倍的数据密度来改善LED的数量。

运行– 2:08min

告诉我们你的想法

您是否有评论,更新或想要添加到此视频内容的内容?

提交

光学/光子学视频(按主题)