轴铅角度和表面纹理的测量

为了提高汽车的可靠性,在动态密封系统的设计和制造中进行了快速进步。旋转动态密封件冲击设计的两个特性是轴的表面纹理和引线。通过密封的流体泄漏由这些性质确定,这影响了汽车的使用寿命。

为了最佳性能的密封,轴表面纹理必须是最佳的。粗糙的表面纹理将导致密封速度快速磨损,而平滑的质地将导致密封张贴不正确。在制造轴的制造期间形成轴引线,通常称为机器引线角度,并且必须理想地为零。 ISO 6194-1:2009和RMA OS-1-1-REV.2004等标准提供了表面光洁度和引线角的规格。

轴表面纹理和引线角度测量

可以使用几种测量技术来确定轴表面纹理和轴线。少数人在下面讨论过。

字符串方法

RMA标准表明了测量轴引线的字符串方法。在字符串方法中,通过使用从串悬挂的重量来测量引线角。串方法是简单且经济的实现。但是,它不太可靠,因为它取决于表面饰面等因素和所用串和润滑剂的类型。图1a-c详细说明了字符串方法组装。

(a)典型的弦绳法装配,安装轴安装。 (b)轴顺时针旋转,逆时针旋转以检查串横向。 (c)用verners测量行动的距离。

(一种)

(a)典型的弦绳法装配,安装轴安装。 (b)轴顺时针旋转,逆时针旋转以检查串横向。 (c)用verners测量行动的距离。

(b)

(a)典型的弦绳法装配,安装轴安装。 (b)轴顺时针旋转,逆时针旋转以检查串横向。 (c)用verners测量行动的距离。

(C)

图1。 (a)典型的弦绳法装配,安装轴安装。 (b)轴顺时针旋转,逆时针旋转以检查串横向。 (c)用verners测量行动的距离。

手写笔轮廓计

RMA标准推荐手写笔分析器来确定表面纹理。目前还使用触控笔轮廓计量。触控笔Profilometer测量2D表面参数,如RA,RZ和RPM。测量这些参数和由触控笔工具引起的测量误差的模糊性是此方法的几个限制。相对于触控笔的轴对准对于精确测量粗糙度至关重要。此外,2D参数可能无法彻底描述轴的功能性质’S表面。虽然与字符串方法相比,该方法是一个明确的改进,但它只能用于宏观引线角度的定量测量而不是微小引线角度。

在使用2D触点触控笔技术(B)时,表面纹理可以随着相似的(a)而在相似的(a)。

(一种)

在使用2D触点触控笔技术(B)时,表面纹理可以随着相似的(a)而在相似的(a)。

(b)

图2。 在使用2D触点触控笔技术(B)时,表面纹理可以随着相似的(a)而在相似的(a)。

白光干涉测量

白光干涉测量法也称为光学分析,是一种非接触技术,适用于3D表面粗糙度测量。在该方法中确定3D表面参数(S参数)而不是2D粗糙度参数(R参数)。例如,SA,SZ和SPM分别是RA,RZ和RPM的等同物。该方法的一些优点是速度,分辨率和可重复性。

光学干涉仪的标准示意图。

图3。 光学干涉仪的标准示意图。

用于测量引线角度的3D表面计量系统

Bruker开发的NPFlex-LA测量系统允许精确,定量测量关键轴参数。系统处理直径为38至203mm的轴。这是测量引线角度的非接触方法,测量精度不受铅的变化的影响。该系统使行业可以获得全面的3D信息,使用单个系统测量所有关键轴参数,并确保高质量的轴。它有一个简短的设置时间,并产生可重复的测量结果。 NPFlex-LA的设计成使得可以实现一致的测量,而不管如何由不同的运算符对齐。

测试轴安装在NPFlex-LA上。

图4。 测试轴安装在NPFlex-LA上。

NPFlex-LA的设计使得运营商不必在安装过程中涉及完美的部分级别或摆动。

图5。 NPFlex-LA的设计使得运营商不必在安装过程中涉及完美的部分级别或摆动。

结论

现在用于测量轴性能的传统技术,如串方法和触控笔的计量不足,现在是更平滑的轴,密封接口更加紧密控制。新的轴规格符合当前行业标准,需求更加强大的方法,可以定量测量轴性能。白色光干涉测量法是一种更好的技术,用于定量测量轴表面纹理和引线角度。布鲁克'S的操作员无关的NPFlex-LA测量系统使制造商能够定量和可重复测量轴线。

此信息已采购,审查和调整Bruker纳米表面提供的材料。

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