Posted in | LED / OLED.

来自纳米仪测量的Imperia光致发光成像系统检测到产量杀死缺陷

该视频显示了Nanometrics的功能’Imperia PhotoLminescence(PL)成像系统。使用独特的光学设计技术,PL成像系统检测并分类损害缺陷免受滋扰缺陷,并提供了同时监测PL生产的额外益处。它结合了MOCVD反应器产量和PM调度,以最大限度地减少盒式磁带处理时间和FAB空间使用。与剥离映射相比,偶然可以通过提供1,000次数据密度来提高LED的量。

运行– 2:08min

纳米富测定法的Imperia光致发光(PL)成像系统

告诉我们你的想法

您是否有审核,更新或任何您想要添加到此视频内容的内容?

留下您的反馈意见
提交

主题的光学/光子视频视频